Kemiska sektionen

Röntgenlaboratoriet

Inom forskningsprogrammet Oorganisk Kemi finns Sveriges mest välutrustade röntgenlaboratorium för pulver- och tunnfilmsdiffraktion. Pulverdiffraktion används för fasanalys och strukturbestämning, utrustning finns även för in-situ mätningar vid hög och låg temperatur.

Lågvinkeldiffraktion används för att förstärka intensiteten på ytskikt. Många tunna filmer innehåller textur och restspänning, det finns utrustning som ger hög intensitet vid dessa mätningar.

Även epitaxiella kan filmer karaktäriseras med avseende på cellparameterar och spänning med så kallad reciprocal space mappning.

Laboratoriet används även som Ångströmgemensam resurs. Vi utför även uppdragsanalyser åt företag etc.

Kontaktperson: Mikael Ottosson

Vår utrustning

Vi har 8 diffraktometrar och en röntgenfluorocens spektrometer

3st Siemens D5000

Två Bragg-Brentano instrument för pulver/fasta material. Ett θ-2θ instrument med Göbelsspegel. Parallel-stråle optiken används huvudsakligen för lågvinkelmätningar av tunna filmer.

Bruker D8

Bruker D8 med Kaα1 monokromator och en Lynxeye positionskänslig detektor (PSD). Systemet används för högupplösande pulverdiffraktion. Förutom provväxlare finns det provsteg för hög och låg temperatur.

Bruker TwinTwin 

Vårt nyaste system för pulverdiffraktion. Med Lynxeye XE PSD detektorn kan man göra mycket snabba mätningar med bra upplösning och låga bakgrunder. För effektivt utnyttjande finns en provväxlare som kan laddas med upptill 96 prover samtidigt.

Bruker Discover

Den nyaste tunnfilmsdiffraktometern med motoriserat provsteg.  Systemet har en mycket snabb Lynxeye PDS detektor och moduloptik. Den huvudsakliga användningen är “fasmapping”, GIXRD och XRR.

2st Philips MRD

De mest avancerade systemen med stor flexibilitet för mätningar av tunna filmer. Nästan alla typer av mätningar kan göras, t.ex. GIXRD, XRR, Reciprocal space mappning (RSM), textur- och spänningsmätning.

XRF: Epsilon 5  

Energidispersiv röntgenfluorescence spektrometer, EDXRF. Systemet används huvudsakligen för att mäta tjocklek och sammansättning på tunna filmer.